Design For Manufacturing Solution
반도체의 IC설계 및 검사 데이터를 이용하여
설계상의 취약점 예측과 실제 발생한 불량의 측정을 제공하는 솔루션입니다.
Key Technology
설계 데이터 활용
이미지 프로세싱
GPU 고속 연산
비즈니스 도메인
딥러닝 연산
- DAQ (Defect Analysis Quantification)
- Wafer 검사 이미지와 IC설계 디자인을 연계 분석하여, 불량 측정 및 취약점 모니터링 시스템
- DFM ? Design for Manufacturing
- Wafer ? 반도체 집적 회로의 원재료로 사용되는 실리콘 단결정으로 된 원판 모양의 기판.
- GDS ? Graphic Database System
- OASIS ? Open Artwork System Interchange Standard